• 名称
• 能量分散型荧光X射线元素分析仪（XRF）

• 产地
• 日本

• 型号
• JSX－3400R

• 品牌
• JEOL

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• 仪器介绍
• JSX-3400R是日本电子株式会社推出的新一代高性能能量分散型荧光X射线元素分析仪。该设备具有出众性能指标，不仅能很好对应RoHS指令、ELV指令和其它环境指令相关元素分析，指令以外的一般元素也能在高感度下测试分析。

• 主要特点
• 1. 实现高灵敏度微少成分的分析短时间测定！
     □ 采用新光学系统与高分辨率 Si(Li) 型检测器。检测器分辨率保证在149eV以下。(业界最好的保证分辩率)
     □ 最新开发的针对RoHS用X射线滤波器。
  减除了X射线管发出的干扰波峰以外，实现了波峰背景的低减与避免共存元素影响。
  2. 内置标配塑料和金属的检量线。用户不需要再做！
     □ 通过设备的校正功能，配置的各种检量线长期使用完全有效。一般的保守也特别简单
  3. 简单方便的操作系统
     □ 按一键就完成测定!
  4. 材料元素 Monitoring 系統
     □ 实现样品形状/厚度/面积和材料性质补正都自动进行。
     在业界最多补正功能，分析结果有信心！

• 技术参数
•    元素范围 Na - U
     X射线管 5-50kV, 1mA, 50W
     靶 Rh
     滤波机构 4种自动交换(包括Open)
     准直器 1mmΦ,3mmΦ, 7mmΦ
     探测器 液氮制冷型Si(Li)半导体探测器
     液氮 3升（消耗量1升/日以下）仅使用
     样品室尺寸 300 mmΦ x 150mmH
     样品室环境 大气， 真空（可选）
     操作系统 Windows XP(英文或日文)，19寸彩色显示器
     主要附件 能量校正样品/强度校正样品/检查样品
     设备电源 单相AC100V±10%，单相AC220V±10%， (可选)1.5KVA